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      掃描開爾文探針

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      掃描開爾文探針

      掃描開爾文探針
      掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

      主要特點:
      ● 功函分辨率< 3meV
      ● 掃描面積:5mm to 300mm(四種型號,每種型號掃描面積不同)
      ● 掃描分辨率:317.5nm
      ● 自動高度調節
      應用領域:
      ● 有機和非有機半導體
      ● 金屬
      ● 薄膜
      ● 太陽能電池和有機光伏材料
      ● 腐蝕
      升級附件:
      ● 大氣光子發射系統
      ● 表面光電壓(QTH or LED)
      ● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
      ● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
      ● 相對濕度控制和氮氣環境箱